高低溫沖擊烘箱、冷熱沖擊試驗箱 工業(yè)烘箱

 SECS / GEM是用于設備到主機數據通信的半導體設備接口協(xié)議。在自動(dòng)化工廠(chǎng)中，接口可以啟動(dòng)和停止設備處理，收集測量數據，更改變量并為產(chǎn)品選擇配方。 SECS（SEMI設備通信標準）/ GEM（通用設備模型）標準以確定的方式完成所有這些工作。  由SEMI（半導體設備和材料）組織開(kāi)發(fā)，該標準定義了一套通用的設備行為和通信能力。

高低溫沖擊烘箱、冷熱沖擊試驗箱? 概述

高低溫沖擊烘箱、冷熱沖擊試驗箱適用于電子、汽車(chē)配件、塑膠等行業(yè)，測試各種材料對高、低溫的反復沖擊能力。檢測產(chǎn)品于熱脹冷縮所產(chǎn)生的化學(xué)變化或物理傷害，確保產(chǎn)品的品質(zhì)。

特點(diǎn)

• 三箱設備區分為：高溫區、低溫區、測試區三部分，測試產(chǎn)品置于測試區，沖擊時(shí)高溫區或低溫區的溫度沖入測試區進(jìn)行沖擊, 測試產(chǎn)品為靜態(tài)式。
• 采用觸控式圖控操作介面，操作筒易。
• 沖擊方式應用風(fēng)路切換方式將溫度導入測試區，做冷熱沖擊測試。

Ø  高溫沖擊或低溫沖擊時(shí)，大時(shí)間可達999H，大循環(huán)周期可達9999次。

• 系統可作自動(dòng)循環(huán)衙擎或手動(dòng)選擇性沖擊并可設定二區或三區沖擊及冷沖熱沖啟始。
• 冷卻采二元冷凍系統，降溫效果快速，冷卻方式為水冷式。

Ø  可以試驗沖擊常溫執行滿(mǎn)足標準及試驗方法: GJB150.5 溫度沖擊試驗;GJB360.7溫度沖擊試驗;GB/2423.22 溫度沖擊試驗

符合標準

• GJB 150.5A-2009 溫度沖擊試驗
• GB/T 2424.13-2002 溫度沖擊試驗
• GJB 360B-2009 溫度沖擊試驗
• GB/T 2423.2-2008 高溫試驗方法
• GB/T 2423.1-2008/IEC 6008-2-1-2007 低溫試驗方法
• GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件
• GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件規 
• 所有符合GEM的生產(chǎn)設備都具有*的界面和一定的行為。 GEM設備可以使用TCP / IP（使用HSMS標準，SEMI E37）或基于RS-232的協(xié)議（使用SECS-I標準，SEMI E4）與支持GEM的主機進(jìn)行通信。通常這兩種協(xié)議都受支持。每臺設備都可以使用由GEM的通用SECS-II消息進(jìn)行監控和控制。  還有許多額外的SEMI標準和工廠(chǎng)規范參考了GEM標準的特點(diǎn)。