兩箱高低溫沖擊試驗箱，高 低溫提籃沖擊箱主要為航天、航空、石油、化工、軍事、汽車(chē)（摩托車(chē)）、船舶、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境，模擬試品在溫度變化環(huán)境條件對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選等。
產(chǎn)品名稱(chēng)及型號 | ||
1.1 產(chǎn)品名稱(chēng) | 兩箱沖擊試驗箱 | |
1.2 產(chǎn)品型號 | JS-CJ-65/90 | |
1.3數量 | 1臺 | |
| 兩箱高低溫沖擊試驗箱，高 低溫提籃沖擊箱概述 | ||
2.1 概述 | 本產(chǎn)品是模擬GB/T10589-2008低溫試驗箱等技術(shù)條件；GB/T11158-2008高溫試驗箱技術(shù)條件制造，主要為航天、航空、石油、化工、軍事、汽車(chē)（摩托車(chē)）、船舶、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境，模擬試品在溫度變化環(huán)境條件對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選等。 | |
2.2主要組成 | 箱體、制冷系統、加熱系統、電氣控制系統、防凝露裝置等，以及在本技術(shù)規格中未提及的、但為確保該系統正常、穩定、長(cháng)期、安全、可靠運行所必須的其它配套設施。 | |
兩箱高低溫沖擊試驗箱，高 低溫提籃沖擊箱技術(shù)參數 | ||
3.1 提籃尺寸 | 450×450×450mm (深×寬×高)，多尺寸可選 | |
3.2 工作室尺寸 | 600×600×600mm (深×寬×高) | |
3.3溫度參數 | ||
預熱 室 | 溫度范圍 | 40℃～+180℃ |
溫度波動(dòng)度 | ≤±2℃ | |
溫度上升時(shí)間 | 50 ℃～180 ℃ ≤ 30 min | |
預冷 室 | 溫度范圍 | -65 ℃ ～ +30 ℃ |
溫度波動(dòng)度 | ≤±0.5℃ | |
蓄冷材料 | 鋁塊 | |
溫度下降時(shí)間 | 30℃～-80℃ ≤60min | |
工作參數 | 溫度沖擊范圍 | -45℃～＋150℃ |
溫度波動(dòng)度 | ≤±0.5℃ | |
溫度均勻度 | ≤2℃（空載、恒定狀態(tài)下） | |
溫度偏差度 | ±2.0℃（空載、恒定狀態(tài)時(shí)） | |
轉換時(shí)間 | ≤10S | |
溫度恢復時(shí)間 | ≤5 min | |
溫度沖擊方式 | 通過(guò)試驗樣品在測試室移動(dòng)，上下移動(dòng)拉動(dòng)樣品在高溫室和低溫室之間進(jìn)行溫度沖擊。 | |
3.4沖擊方式 | 兩箱式溫度循環(huán)沖擊，試樣物品在移動(dòng)提籃中，循環(huán)過(guò)程自動(dòng)控制，停留及轉換時(shí)間可調 | |
3.5滿(mǎn)足標準 | GB/T 2423.22 -2012Na 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗； GB 10592-2008高、低溫試驗箱技術(shù)條件； GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗A：低溫試驗方法； GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗B：高溫試驗方法； 以上標準和規范如果被新標準和規范替代，執行新的標準和規范，雙方另有約定的按照約定執行。 | |
3.6總功率 | 約18.0kW。 | |
3.7電壓 | AC 380V±10%； 50 Hz；三相五線(xiàn)。 | |
3.8冷卻方式 | 風(fēng)冷 | |
